Difracción de rayos X
La longitud de onda de los rayos X es del orden de los espaciados de las redes cristalinas, por lo que la difracción de rayos X se emplea como técnica para identificar sustancias a partir de su estructura cristalina. Los difractogramas muestran picos que son como una huella dactilar de cada sustancia cristalina, al igual que ocurre con otros patrones espectrométricos. También es posible crear modelos del interior de los cristales a partir de los patrones de interferencia de los rayos X con la red cristalina.
Difracción de rayos X
X izpien difrakzioa
Difracció de raigs X
Difracción de raios X
X-ray diffraction
Röntgenstrahlendiffraktion
Diffraction de rayons X
Difracció de raigs X
Difracção de raios X |
|
||
Difracción de rayos X |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Información general : webmaster@ite.educacion.es| C/ Torrelaguna 58. 28027 Madrid - Tlf: 913 778 300. Fax: 913 680 709. NIPO: 651-06-132-8
